Znalezionych wyników: 2948045

[Przetarg Warszawa] Pomiary i analiza metrologiczna wzorców 2D i 3D wykonanych metodą mikrodruku 3D na systemie Nanoscribe

Terminy

Data publikacji ogłoszenia:
2025-04-30
Termin składania dokumentów:
2025-05-09 calendar Dodaj do kalendarza Pomiary i analiza metrologiczna wzorców 2D i 3D wykonanych metodą mikrodruku 3D na systemie Nanoscribe Pomiary i analiza metrologiczna wzorców 2D i 3D wykonanych metodą mikrodruku 3D na systemie Nanoscribe 2025-05-09 00:00 2025-05-09 00:00 Europe/Warsaw https://www.portalzp.pl/przetargi/pomiary-i-analiza-metrologiczna-wzorcow-2d-i-3d-wykonanych-metoda-mikrodruku-3d-na-systemie-nanoscribe--11240155?page=3&sT=801ab9a0ec4460a4bbc338a872426b1e529a090b
(pozostało 7 dni)
Termin realizacji zlecenia:
19.05.2025 - 31.12.2025

Informacje o zamawiającym

Organizator:
POLITECHNIKA WARSZAWSKA WYDZIAŁ MECHATRONIKI
NIP:
5250005834
Województwo:
mazowieckie
Powiat:
Warszawa
Miejscowość:
WARSZAWA
Adres:
02-525 WARSZAWA, ŚW. ANDRZEJA BOBOLI 8

Informacje o przetargu

Rodzaj:
usługi, wykonanie
Branża:
Laboratoria
Podbranża:
usługi laboratoryjne
Tryb przetargu:
zapytanie ofertowe
Województwo realizacji:
mazowieckie
Rodzaj postępowania:
BIZ
zapytanie ofertowe
Źródło:
BIZ
restricted-banner

Nie jesteś jeszcze użytkownikiem Portalu ZP?

Już teraz zamów pełny dostęp i korzystaj z:

  • codziennie aktualizowanej bazy ponad 650 000 przetargów
  • nowych ogłoszeń z każdej branży i każdego regionu
  • ogłoszeń o przetargach publicznych BZP, TED oraz zleceń
  • specyfikacji istotnych warunków zamówienia przy każdym ogłoszeniu z BZP
Testuj portal za 0 zł

Masz dostęp do portalu ?

Zaloguj się